顯微分析流程

1、寄樣

2、初檢

3、報(bào)價(jià)

4、簽訂保密協(xié)議

5、開始實(shí)驗(yàn)

6、結(jié)束實(shí)驗(yàn)

7、后期服務(wù)

以上是對(duì)于顯微分析的相關(guān)介紹，如有其它檢測(cè)需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師，為您一對(duì)一服務(wù)。

健明迪檢測(cè)報(bào)告用途有哪些?

1、銷售使用

2、研發(fā)使用

3、工業(yè)問題診斷

4、科研論文/市場(chǎng)抽檢數(shù)據(jù)使用

5、投標(biāo)競(jìng)標(biāo)

6、項(xiàng)目工程等

選擇檢測(cè)機(jī)構(gòu)，為什么要選擇健明迪檢測(cè)?

1、健明迪檢測(cè)是檢測(cè)機(jī)構(gòu)，高新技術(shù)企業(yè)，檢測(cè)資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。

2、多家實(shí)驗(yàn)室分支，總部位于北京，在上海、廣州、江蘇、濟(jì)南、四川等都有分支實(shí)驗(yàn)室。

3、初檢樣品，初檢之后根據(jù)客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)。

4、檢測(cè)周期短，檢測(cè)費(fèi)用低，實(shí)驗(yàn)方案齊全。

5、檢測(cè)報(bào)告認(rèn)可，支持掃碼查詢真?zhèn)危瑱z測(cè)報(bào)告認(rèn)可度高。

顯微分析標(biāo)準(zhǔn)

ASTM C1322-2005b(2010)先進(jìn)陶瓷斷裂源斷口顯微分析和鑒定規(guī)程

ASTM D2797/D2797M-2011a反射光顯微分析用煤樣品的制備規(guī)程

ASTM D3997/D3997M-1997(2009)用反射光法的顯微分析用煤樣品的制備規(guī)程

ASTM D4616-1995(2008)通過反射光進(jìn)行瀝青顯微分析以及測(cè)定瀝青中間相的試驗(yàn)方法

DIN EN 1071-4-2006高技術(shù)陶瓷 陶瓷涂層試驗(yàn)方法 第4部分:化學(xué)成分電子探頭顯微分析測(cè)定

GB/T 4930-2008微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T 15247-2008微束分析 電子探針顯微分析 測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法

GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 21636-2008微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術(shù)語(yǔ)

顯微分析項(xiàng)目

表面微觀形貌分析，表面污染物分析，微區(qū)成分分析，相結(jié)構(gòu)分析，織構(gòu)分析，金相組織分析，鍍層厚度測(cè)試，三維尺寸測(cè)量。

顯微分析設(shè)備

掃描電子顯微鏡(SEM)，X射線能量色散譜儀(EDS)，X射線波長(zhǎng)色散譜儀(WDS)，激光共聚焦掃描顯微鏡(LSCM)，原子力顯微鏡(AFM)，俄歇電子能譜儀(AES)，X射線光電子能譜儀(XPS)，透射電子顯微鏡(TEM)，相移干涉儀(PSI)，掃描探針顯微鏡(SPM)，光學(xué)顯微鏡(OM)