低氣壓試驗(yàn)的目的 低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)方法
公司簡(jiǎn)介
健明迪檢測(cè)提供的低氣壓試驗(yàn)的目的 低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)方法，低氣壓試驗(yàn)條件 1、試驗(yàn)氣壓 GJB150不適用于飛行高度超過30000m的航天器、飛機(jī)或?qū)椛系难b備，具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
低氣壓試驗(yàn)條件
1、試驗(yàn)氣壓
GJB 150不適用于飛行高度超過30 000m的航天器、飛機(jī)或?qū)椛系难b備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值。
對(duì)比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小；
GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件由A到試驗(yàn)條件E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件J沒有呈現(xiàn)規(guī)律性。
與GJB 548所列的試驗(yàn)條件對(duì)比，GJB 360 試驗(yàn)條件增加了條件H到試驗(yàn)條件J，對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPa；J：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。
2、試驗(yàn)時(shí)間
GJB 360B-2009規(guī)定：
若無(wú)其他規(guī)定，試驗(yàn)樣品在低氣壓條件下的試驗(yàn)時(shí)間，可從下列數(shù)值中選?。?br> 5min、30min、1h、2h、4h和16h。
3、升降壓速率
通常不大于10kPa/min。
對(duì)于其他相關(guān)問題，請(qǐng)點(diǎn)擊右側(cè)在線咨詢，健明迪檢測(cè)客服將為您分配對(duì)應(yīng)工程師，為您提供更專業(yè)的咨詢。
低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1）GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第二部分 低氣壓（高度）試驗(yàn)》
2）GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105低氣壓試驗(yàn)》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）
3）GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1001 低氣壓（高空作業(yè)）》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)
4）GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 總則》
5）GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法》
6）GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
7）GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
8）GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)訪求》
9）GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
10）MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 低氣壓（高度）試驗(yàn)》
11）溫度、壓力、高度關(guān)系GB1920
12）IEC 60068-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第二部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓試驗(yàn)》
低氣壓試驗(yàn)的目的是確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗(yàn)低氣壓對(duì)元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng)；有時(shí)候可用于確定機(jī)電元件的耐久性。
低氣壓試驗(yàn)是常溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因，常溫低氣壓試驗(yàn)不能使用時(shí)，則應(yīng)進(jìn)行溫度-氣壓綜合環(huán)境試驗(yàn)。
1、試驗(yàn)氣壓
GJB 150不適用于飛行高度超過30 000m的航天器、飛機(jī)或?qū)椛系难b備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值。
對(duì)比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小；
GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件由A到試驗(yàn)條件E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件J沒有呈現(xiàn)規(guī)律性。
與GJB 548所列的試驗(yàn)條件對(duì)比，GJB 360 試驗(yàn)條件增加了條件H到試驗(yàn)條件J，對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPa；J：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。
2、試驗(yàn)時(shí)間
GJB 360B-2009規(guī)定：
若無(wú)其他規(guī)定，試驗(yàn)樣品在低氣壓條件下的試驗(yàn)時(shí)間，可從下列數(shù)值中選?。?br> 5min、30min、1h、2h、4h和16h。
3、升降壓速率
通常不大于10kPa/min。
對(duì)于其他相關(guān)問題，請(qǐng)點(diǎn)擊右側(cè)在線咨詢，健明迪檢測(cè)客服將為您分配對(duì)應(yīng)工程師，為您提供更專業(yè)的咨詢。
低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1）GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第二部分 低氣壓（高度）試驗(yàn)》
2）GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105低氣壓試驗(yàn)》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）
3）GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1001 低氣壓（高空作業(yè)）》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)
4）GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 總則》
5）GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法》
6）GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
7）GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
8）GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)訪求》
9）GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
10）MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 低氣壓（高度）試驗(yàn)》
11）溫度、壓力、高度關(guān)系GB1920
12）IEC 60068-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第二部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓試驗(yàn)》
低氣壓試驗(yàn)的目的是確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗(yàn)低氣壓對(duì)元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng)；有時(shí)候可用于確定機(jī)電元件的耐久性。
低氣壓試驗(yàn)是常溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因，常溫低氣壓試驗(yàn)不能使用時(shí)，則應(yīng)進(jìn)行溫度-氣壓綜合環(huán)境試驗(yàn)。
